SN/T 2592.3-2010 电子电气产品中有机锡化合物的测定 第3部分:电感耦合等离子体质谱筛选法.pdf

2024年07月27日 SN/T 2592.3

SN/T 2592.3-2010 电子电气产品中有机锡化合物的测定 第3部分:电感耦合等离子体质谱筛选法.pdf
1范围
本部分规定了电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定电子电气产品聚合物部件中有机锡的筛选方法。
本部分适用于电子电气产品聚合物部件中有机锡的筛选。有机锡的测定低限(以锡计)为0.5 mg/kg.
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注8期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
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